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產(chǎn)品型號: Airphen
所屬分類(lèi):機載型植物冠層分析儀
更新時(shí)間:2018-07-04
簡(jiǎn)要描述:法國HI-PHEN植物冠層分析儀,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
法國HI-PHEN植物冠層分析儀特點(diǎn)
*兩輪設計便于野外快速、輕松獲取數據
用戶(hù)友好接口、適合大區實(shí)驗
多角度測量降低直接光照影響
GPS和羅盤(pán)精確定位測量
法國HI-PHEN植物冠層分析儀如何測量
太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角,可近似地看作是豎立在地面上的直線(xiàn)在陽(yáng)光下的陰影與正南方的夾角。反演的過(guò)程其實(shí)就是求解多元方程組,因太陽(yáng)天頂角的個(gè)數必須大于葉傾角在0°到90°內所分的區間個(gè)數,方程組才能解。后根據反演得到的各個(gè)葉傾角區間內的有效LAI,可以得出對應區間的葉傾角概率密度分布情況,當葉傾角區間的個(gè)數越多葉傾角概率密度曲線(xiàn)就越平滑,但還需要通過(guò)線(xiàn)性回歸分析來(lái)確定葉傾角區間個(gè)數是多少時(shí),反演是優(yōu)秀的。事實(shí)上葉傾角概率密度分布曲線(xiàn)屬于單峰型曲線(xiàn),無(wú)論區間個(gè)數多少,實(shí)測結果的葉傾角概率分布曲線(xiàn)介于線(xiàn)性小二乘理論反演結果和Campbell函數擬合結果曲線(xiàn)之間。Campbell函數擬合的概率密度要比實(shí)測的要偏小,線(xiàn)性小二乘理論由于得到的是對應葉傾角區間中值的離散結果,反演結果偏大在其他葉傾角區間時(shí),兩者存在一種互補關(guān)系。
測量葉面積指數與葉傾角分布關(guān)
葉面積指數和葉傾角分布都是表征植被冠層結構的重要參數,用來(lái)反映植物葉面數量、葉子角度分布、植被群落生命活力及其環(huán)境效應,為植物冠層表面物質(zhì)和質(zhì)量交換的描述提供結構化的定量信息,是植被定量遙感研究中的關(guān)鍵問(wèn)題。LAI是一個(gè)無(wú)量綱度量的參數,其大小與植被種類(lèi)、生長(cháng)期、LAD、葉簇和非生物量等因素有關(guān)。